ASTM F 466-1979 在0.2至2.0千兆赫频率范围内小功率晶体管的小信号散射参数的试验方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-20 08:34:46
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【英文标准名称】:TestMethodforSmall-SignalScatteringParametersofLow-PowerTransistorsinthe0.2to2.0-GHzFrequencyRange
【原文标准名称】:在0.2至2.0千兆赫频率范围内小功率晶体管的小信号散射参数的试验方法
【标准号】:ASTMF466-1979
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1979
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;分散;频率范围;晶体管;电子工程;额定值
【英文主题词】:testing;transistors;electronicengineering;ratings;frequencyranges;dispersion
【摘要】:
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:在0.2至2.0千兆赫频率范围内小功率晶体管的小信号散射参数的试验方法
【标准号】:ASTMF466-1979
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1979
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;分散;频率范围;晶体管;电子工程;额定值
【英文主题词】:testing;transistors;electronicengineering;ratings;frequencyranges;dispersion
【摘要】:
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语
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