【英文标准名称】:Digitalcellulartelecommunicationssystem(phase2).Halfratespeech.Part7:ANSI-CcodefortheGSMhalfratespeechcodec.(GSM06.06version4.2.1).
【原文标准名称】:蜂窝式数字电信系统(第2段).半速语音服务.第7部分:GSM半速语音编解码器用ANSI-C编码(GSM06.06)
【标准号】:NFZ83-581-7-1998
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1998-09-01
【实施或试行日期】:1998-09-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:M11
【国际标准分类号】:33_070_50
【页数】:13P;A4
【正文语种】:其他


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Timedependentdielectricbreakdown(TDDB)testforgatedielectricfilms
【原文标准名称】:半导体器件.栅极介电薄膜用时间相关的电介质击穿(TDDB)试验
【标准号】:IEC62374-2007
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2007-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元件;定义;电介质;电气工程;电子设备及元件;外壳;栅极;热室;寿命;半导体器件;应力;试验;试验装置;时间依赖的;电压;电压应力
【英文主题词】:Breakdown;Checkingequipment;Components;Definitions;Dielectric;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Failure;Gates;Heatingchamber;Life(durability);Measuringtechniques;Semiconductordevices;Stress;Testing;Testingdevices;Time-dependent;Voltage;Voltagestress
【摘要】:ThisInternationalStandardprovidesatestmethodofTimeDependentDielectricBreakdown(TDDB)forgatedielectricfilmsonsemiconductordevicesandaproductlifetimeestimationmethodofTDDBfailure.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:43P;A4
【正文语种】:英语